知转果

发明

基于倾斜相位编码条纹的光学三维测量方法已下证

基础信息

类型：: 农业

申请号：: 2015101429447

申请日期: 1970-01-01

发布日期: 2022-03-01

专利详情

本发明公开了基于倾斜相位编码条纹的光学三维测量方法，由倾斜正弦条纹编码原理、倾斜相位条纹编码原理、及三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是：（1）由于基于相位编码的方式相比基于强度编码的方式而言,其对被测物体表面的对比度、环境光、相机噪声等不太敏感，鲁棒性好，因此，该方法能够测量表面明暗程度不同的物体。（2）由于投影仪和CCD相机平行放置时，当投影传统的水平(或竖直)正弦条纹时,并不能获得最佳的测量效果。因此，设计随意改变角度的倾斜条纹能够有助于探索最优的测量效果，能提高测量精度

合计：￥30000共1件服务

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