本发明公开了基于分段量化相位编码的结构光三维测量方法，由量化相位编码原理、分段相位编码原理、三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是：（1）与传统的正弦条纹加相位编码条纹投影方法相比：本方法通过特定的编码序列来调制量化编码相位，特定的编码规则使得解码的准确性得以大大提高；（2）该方法将调制后的量化编码相位嵌入到3幅编码条纹中，并使用连续的3位码字确定当前周期条纹级次，极大地提高了条纹级次的准确性和三维测量精度；（3）根据实际测量需要,该方法可以产生较多的码字，测量精度高，鲁棒性好，在复杂物体较大物体、带有单一颜色物体的三维测量中具有潜在的应用前景和实用价值。