本发明公开了一种S型分段相位编码结构光三维测量方法，由相位编码原理、格雷码原理、条纹级次求解原理、三维测量原理四大关键部分组成。本发明的优点是：(1)对相位编码条纹采用分段编码处理，使嵌入的码字数量有了很大的提高,提高了测量精度。(2)采用S型分段相位编码，分段级次跳变处的分段相位编码级次无跳变，使分段级次判断更加精确。(3)简化分段相位编码条纹级次连接数据处理的算法。(4)本方法在高频测量时稳定性好。